產(chǎn)品樣本應(yīng)用文章
零件淬火后總是會多多少少的留出一些未轉(zhuǎn)換的殘余奧氏體。太多的殘余奧氏體對零件的使用期限和強度不好，會導(dǎo)致軟點和規(guī)格的多變性，但適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體能夠提升零件的疲勞強度。我們可以經(jīng)過控制殘余奧氏體來控制產(chǎn)品品質(zhì)和使用期限，以做到預(yù)期目標(biāo)。 1. 殘余奧氏體對各種零件的影響 （1）滾動軸承規(guī)定有優(yōu)良的耐磨性能、高的翻轉(zhuǎn)疲勞強度合好的外形尺寸精密度可靠性，在常見應(yīng)力水準(zhǔn)下殘余奧氏體對疲憊使用壽命影響并不大。具體制造中45號鋼淬火后，一般不歷經(jīng)冷處理。 （2）傳動齒輪一般都不需冷處理。殘余奧氏體有益于其疲倦使用壽命的提升。 （3）對工具鋼，殘余奧氏體可提升抗沖擊性。針對切削刀具，殘余奧氏體減少強度使加工性受到影響。對鉆頭、銑刀等關(guān)鍵承擔(dān)扭曲應(yīng)力的專用工具，適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體是有益的。對工作壓力生產(chǎn)的模具鋼，特別是在沖針適當(dāng)?shù)臍堄鄪W氏體是有利的。殘余奧氏體相對性于馬氏體而言，殘余奧氏體似海棉，可緩存沖擊性，提升延展性，提升表層觸碰疲勞強度，增加沖針使用期限。 （4）對測量儀器，殘余奧氏體不利確保規(guī)格精密度，務(wù)必用冷處理盡量地清除殘余奧氏體。 2. 殘余奧氏體影響各種因素 伴隨著鋁合金因素的提升 ，碳含量的提升，淬火正中間滯留或制冷速率遲緩，淬火溫度提升，都是會使殘余奧氏體提升。淬火時制冷終斷并等溫過程滯留，會使馬氏體最后變化量少，殘余奧氏體增加，這就是奧氏體的熱防老化。碳含量在過共析鋼點0.8上下，殘余奧氏體在25%下列，殘余應(yīng)力為壓應(yīng)力。零件滲碳后表層碳含量高，淬火后殘余奧氏體增加。 決策殘余奧氏體成分的首要要素分別是： （1）原料鋁合金因素的影響：Mn、Ni、Cr鋁合金元素使淬火后殘余奧氏體提升。 （2）原料碳成分提升，使殘余奧氏體提升。 （3）熱處理方法上，奧氏體化溫度提升，淬火溫度提升，淬火終止溫度提升，淬火制冷速率變?nèi)�，淬火正中間滯留，都是會使殘余奧氏體提升。在零件原材料明確的根基上，熱處理工藝適度減少淬火溫度，提升冷處理（持續(xù)淬火）等全是降低殘余奧氏體的合理對策。零件經(jīng)淬火冷處理回火后殘余奧氏體均≤10%，GCr1545號鋼一般在5%上下。
樣品材料的非晶、準(zhǔn)晶和晶體三者的結(jié)構(gòu)在XRD圖譜上并無嚴(yán)格明晰的分界。 在X射線衍射儀獲得的XRD圖譜上，如果樣品是較好的"晶態(tài)"物質(zhì)，圖譜的特征是有若干或許多個一般是彼此獨立的很窄的"尖峰"（其半高度處的2θ寬度在 0.1°~0.2°左右，這一寬度可以視為由實驗條件決定的晶體衍射峰的"小寬度"）。如果這些"峰"明顯地變寬，則可以判定樣品中的晶體的顆粒尺寸將小于 300nm，可以稱之為"微晶"。 晶體的X射線衍射理論中有一個Scherrer公式：可以根據(jù)譜線變寬的量估算晶粒在該衍射方向上的厚度。 非晶質(zhì)衍射圖的特征是：在整個掃描角度范圍內(nèi)（從2θ 1°~2°開始到幾十度）只觀察到被散射的X射線強度的平緩的變化，其間可能有一到幾個大值；開始處因為接近直射光束強度較大，隨著角度的增加強度迅速下降，到高角度強度慢慢地趨向儀器的本底值。 從Scherrer公式的觀點看，這個現(xiàn)象可以視為由于晶粒極限地細(xì)小下去而導(dǎo)致晶體的衍射峰極大地寬化、相互重疊而模糊化的結(jié)果。晶粒細(xì)碎化的極限就是只剩下原子或離子這些粒子間的"近程有序"了，這就是我們所設(shè)想的"非晶質(zhì)"微觀結(jié)構(gòu)的場景。非晶質(zhì)衍射圖上的一個大值相對應(yīng)的是該非晶質(zhì)中一種常發(fā)生的粒子間距離。 介于這兩種典型之間而偏一些"非晶質(zhì)"的過渡情況便是"準(zhǔn)晶"態(tài)。
殘余應(yīng)力對工件有很大的危害，會使工件發(fā)生變形甚至是斷裂，而工件一旦發(fā)生變形就會對使用精度造成影響，所以消除殘余應(yīng)力顯得尤為重要。 縱觀全球相關(guān)領(lǐng)域，消除殘余應(yīng)力的方法大約有四種： 第一種是自然時效，通過自然放置消除殘余應(yīng)力，這種方法耗時過長，難以適應(yīng)現(xiàn)代科技及生產(chǎn)需要； 第二種是傳統(tǒng)的方法——熱時效法，把工件放進(jìn)熱時效爐中進(jìn)行熱處理，慢慢消除殘余應(yīng)力。但這種方法的缺點也非常的顯著，對要求非常嚴(yán)格的工件或者是大型工件都無法用這種方法處理，而且這種方法還帶來了大量的污染和能源消耗，隨著中國及世界范圍內(nèi)對環(huán)保的進(jìn)一步要求，熱時效爐的處理方式馬上面臨全面退出的境地。 第三種是利用亞共振來消除殘余應(yīng)力，這種方法雖然解決了熱時效的環(huán)保問題，但是使用起來相當(dāng)繁瑣。更令人遺憾的是這種方法只能消除23%的工件應(yīng)力，無法達(dá)到處理所有工件的目的。 第四種是振動時效消除殘余應(yīng)力，是通過機械組裝使之形成了一整套消除應(yīng)力設(shè)備，它可以使工件在短時間內(nèi)達(dá)到消除應(yīng)力的作用，覆蓋所有需要消除應(yīng)力的工件。用頻譜分析優(yōu)選五個頻率以多振型的處理方法達(dá)到消除工件應(yīng)力的目的，所有形狀大小的工件都可以使用這種設(shè)備完成，將激振器夾在工件上進(jìn)行振動就可以達(dá)到消除應(yīng)力的效果。 以上就是消除殘余應(yīng)力方法介紹，如果您有殘余應(yīng)力的分析需求或其他應(yīng)用問題，歡迎咨詢利曼中國。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個多世紀(jì)的技術(shù)開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個行業(yè)的分析需求。 STRESS-X的衍射單元安裝在6自由度機械臂上，可方便對各種形狀和尺寸的樣品進(jìn)行檢測，同時配有非接觸自動激光準(zhǔn)直系統(tǒng)提高定位精度，整個測試系統(tǒng)可封裝在艙體中或安裝在四輪合金推車上用于現(xiàn)場分析；EDGE的特點則為小巧便攜、不受電源線束縛，另可擴展完成殘余奧氏體和相位檢測。兩款儀器均符合ASTM E915及EN 15305國際標(biāo)準(zhǔn)，
1. 降低殘留奧氏體對策 一般熱處理工藝淬火后開展馬氏體變化，與此同時難以避免還會發(fā)生殘留奧氏體。要清除或控制殘留奧氏體，關(guān)鍵有下列幾類方式 ： （1）提升冷處理。冷處理是淬火得持續(xù)其本質(zhì)是減少制冷終止溫度，使殘留奧氏體進(jìn)一步轉(zhuǎn)換為馬氏體。這在GCr15的柱塞偶件中普遍應(yīng)用，是促進(jìn)殘留奧氏體變化的有效的方式 。一般殘留奧氏體控制在10%之內(nèi)。 （2）用馬氏體淬火替代馬氏體淬火，即提升淬火終止溫度，一般在Ms點周邊等溫過程，使反應(yīng)轉(zhuǎn)化成金相組織和滲碳體產(chǎn)生的纖維狀下馬氏體的類均衡機構(gòu)，因不開展馬氏體變化，而降低殘留奧氏體。 （3）熱處理方法主要參數(shù)調(diào)節(jié)：①高碳鋼滲碳時控制碳勢，控制表層碳成分，控制氮碳化學(xué)物質(zhì)及滲碳體等級，進(jìn)而控制殘留奧氏體。②減少奧氏體化淬火溫度，淬火后馬上回火，也可降低殘留奧氏體的成分。③提升回火溫度。可讓鋼中殘留奧氏體變化為馬氏體或溶解，進(jìn)而降低殘留奧氏體。小于200℃回火，鋼中殘留奧氏體不溶解。歷經(jīng)200～300℃回火，鋼中殘留奧氏體逐漸轉(zhuǎn)化為下馬氏體。高過300℃回火，鋼中殘留奧氏體徹底溶解。在高速鋼560℃回火制冷時一部分殘留奧氏體產(chǎn)生馬氏體變化，提高硬度，降低殘留奧氏體。 （4）碳氮共滲時，氨氣及碳氮化合物造成 殘留奧氏體增加。選用滲碳+淬火加工工藝替代碳氮共滲淬火，歷經(jīng)冷處理后可使在500倍高倍放大鏡下人眼觀測不上，殘留奧氏體基本上低于10%或5%。 2. 生產(chǎn)制造應(yīng)用 在實際生產(chǎn)制造中，應(yīng)用于CB18、CPN2.2-0401挺圓柱體、滾軸軸套滲淬后殘留奧氏體的控制。根據(jù)控制氛圍，氨氣進(jìn)入量由40～80L/h,調(diào)節(jié)至20L/h；丙烷控制在200L/h，控制降低表層氮碳化學(xué)物質(zhì)及滲碳體。減少淬火溫度：由850℃調(diào)節(jié)至820～830℃，提升冷處理，回火溫度由180℃提升到200℃等一系列加工工藝主要參數(shù)調(diào)節(jié)對策，使結(jié)果大幅改進(jìn)，控制殘留奧氏體低于10%，做到技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
大米是我們?nèi)粘Ｉ钪凶畛Ｒ姷闹魇持饕Z食。隨著工業(yè)化、城市化的發(fā)展，城市及郊區(qū)的土壤成為重金屬的主要累積場所，土壤中的重金屬可通過“土壤－植物－人”的途徑進(jìn)入人體，對人體健康產(chǎn)生潛在威脅。如砷(As)、鎘(Cd)可引發(fā)人類癌癥，已引起社會廣泛關(guān)注。《GB 2762 食品安全國家標(biāo)準(zhǔn) 食品中污染物限量》對大米中重金屬元素做出了嚴(yán)格的限量要求。 檢測手段包括ICP-MS、AAS、AFS等。其中， AFS、AAS一次只能測定一種元素，檢測多個元素多采用 ICP-OES或 ICP-MS法。但二者有著較為嚴(yán)重的基體、光譜及質(zhì)譜干擾。因此，找到一種可兼顧檢測效率、干擾小的檢測方法顯得尤為重要。 本文使用Horizon全反射熒光光譜儀，對大米標(biāo)樣中的K、Ca、Mn、Fe、Cu、Zn、As進(jìn)行檢測，通過常規(guī)微波消解及懸濁分散法兩種前處理方法對比，結(jié)果無明顯差異。
做XRD有什么用途，能看出其純度？還是能看出其中含有某種官能團？ X射線照射到物質(zhì)上將產(chǎn)生散射。晶態(tài)物質(zhì)對X射線產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象，即入射光束出射時光束沒有被發(fā)散但方向被改變了而其波長保持不變的現(xiàn)象，這是晶態(tài)物質(zhì)特有的現(xiàn)象。 絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準(zhǔn)晶態(tài)物質(zhì)，都能產(chǎn)生X射線衍射。晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長程的有序結(jié)構(gòu)。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場景的一種物理變換，包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖。 X射線衍射（XRD）是目前研究晶體結(jié)構(gòu)（如原子或離子及其基團的種類和位置分布，晶胞形狀和大小等）有力的方法。 XRD特別適用于晶態(tài)物質(zhì)的物相分析。晶態(tài)物質(zhì)組成元素或基團如不相同或其結(jié)構(gòu)有差異，它們的衍射譜圖在衍射峰數(shù)目、角度位置、相對強度次序以至衍射峰的形狀上就顯現(xiàn)出差異。因此，通過樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過對樣品衍射強度數(shù)據(jù)的分析計算，可以完成樣品物相組成的定量分析；XRD還可以測定材料中晶粒的大小或其排布取向（材料的織構(gòu)）等等，應(yīng)用面十分普遍、廣泛。 目前XRD主要適用于無機物，對于有機物應(yīng)用相對較少。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個多世紀(jì)的技術(shù)開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個行業(yè)的分析需求。 可用于桌面的臺式衍射儀ERUOPE、性價比超高的大功率衍射儀APD 2000 PRO、功能強大的多功能高分辨率X射線衍射儀EXPLORER，均可用于職業(yè)衛(wèi)生中游離二氧化硅的檢測。
提到X射線，大家首先想到的就是輻射安全問題，是否有可能對人身造成傷害。 X射線是電離輻射，對人體是有損傷的，接觸射線的時間越長，距離越近致病的危險性就越大，例如拍胸片、透視或者做CT等等。如果長時間的接觸X射線，因為X射線的輻射劑量可以在身體內(nèi)累積，所以就會大量破壞人體的白細(xì)胞，使人體血液中的白細(xì)胞數(shù)量減少，進(jìn)而導(dǎo)致機體免疫功能下降，使病原微生物容易侵入機體而發(fā)生疾病。 因此X射線類設(shè)備的安全問題尤為重要。GNR的殘余應(yīng)力分析儀裝有安全連鎖裝置，在射線及快門打開的情況下，艙門是無法打開的，如果強行打開設(shè)備會立刻斷電，保護(hù)使用人員的安全。另外儀器的輻射劑量經(jīng)過歐盟的認(rèn)證，遠(yuǎn)低于國內(nèi)輻射劑量標(biāo)準(zhǔn)，讓使用人員免除后顧之憂。 從輻射安全許可中可以看到，在射線出口10cm處，任何位置的輻射不超過88μSv/h，在射線出口處50cm，任何位置的輻射不超過3μSv/h，在射線出口處100cm，任何位置的輻射不超過0.5μSv/h. 我國標(biāo)準(zhǔn)要求全年的輻射劑量要低于50mSv，也就是說即使儀器全年都在使用，累計輻射劑量也才4.38mSv，要低于國標(biāo)10倍以上，所以GNR殘余應(yīng)力分析儀在輻射安全方面是完全有所保證的。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個多世紀(jì)的技術(shù)開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個行業(yè)的分析需求。 STRESS-X殘余應(yīng)力分析儀能夠?qū)θ魏纬叽绾托螤畹臉悠愤M(jìn)行無損分析殘余應(yīng)力檢測，這要歸功于其衍射單元安裝在6軸機械臂上。STRESS-X單元包括通過X射線衍射進(jìn)行殘余應(yīng)力或殘余奧氏體測量所需的所有條件。 在標(biāo)準(zhǔn)版本中，機械臂和相關(guān)附件安裝在堅固的鋼制手推車上，該手推車裝有所有控制電子設(shè)備，用于管冷卻的水冷卻器和個人計算機等。STRESS-X可以在距機械臂中心895 mm的距離下測量位于平臺上的樣品或?qū)C械臂移出平臺來檢測大型樣品。
1. 加熱溫度 隨加熱溫度的提高，原子擴散速率急劇加快，使得奧氏體化速度大大增加，形成所需時間縮短。 2. 加熱速度 加熱速度越快，孕育期縮短，奧氏體開始轉(zhuǎn)變的溫度和轉(zhuǎn)變終了的溫度越高，轉(zhuǎn)變終了所需的時間越短。 3. 合金元素及鋼的化學(xué)成分 在一定的含碳量范圍內(nèi)，奧氏體中碳含量增高，晶粒長大傾向增大。C%高，C在奧氏體中的擴散速度以及Fe的自擴散速度均增加，奧氏體晶粒長大傾向增加，但C%超過一定量時，由于形成Fe3CII，阻礙奧氏體晶粒長大。 鋼中加入鈦、釩、鈮、鋯、鋁等元素，有利于得到本質(zhì)細(xì)晶粒鋼，因為碳化物、氧化物和氮化物彌散分布在晶界上，能阻礙晶粒長大。 錳和磷促進(jìn)晶粒長大。強碳化物形成元素Ti、Zr、V、W、Nb等熔點較高，它們彌散分布在奧氏體中阻礙奧氏體晶粒長大；非碳化物形成元素Si、Ni等對奧氏體晶粒長大影響很小。 鈷、鎳等加快奧氏體化過程； 鉻、鉬、釩等減慢奧氏體化過程； 硅、鋁、錳等不影響奧氏體化過程。 由于合金元素的擴散速度比碳慢得多，所以合金鋼的熱處理加熱溫度一般較高，保溫時間更長。 4. 原始組織 原始組織中滲碳體為片狀時奧氏體形成速度快，且滲碳體間距越小，轉(zhuǎn)變速度越快，同時奧氏體晶粒中碳濃度梯度也大，所以長大速度更快。球化退火態(tài)的粒狀珠光體，其相界面較少，因此奧氏體化慢。 影響奧氏體晶粒長大的因素： a. 加熱溫度和保溫時間 由于奧氏體晶粒長大與原子擴散有密切關(guān)系，所以隨著溫度愈高，或在一定溫度下，保溫時間越長，奧氏體晶粒也越粗大。 b. 加熱速度加熱溫度相同時，加熱速度越快，過熱度越大，奧氏體的實際形成溫度越高，形核率的增加大于長大速度，使奧氏體晶粒越細(xì)小。生產(chǎn)上常采用快速加熱短時保溫工藝來獲得超細(xì)化晶粒。 意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個多世紀(jì)的開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個行業(yè)的分析需求。ARE X 為專用的殘余奧氏體分析儀，無需依靠 搭載模塊在常規(guī)XRD上 實現(xiàn)殘余奧氏體測試，具有操作簡便、檢測速度快、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確等特點，對操作人員要求不高，做到輕松上手。
全反射X射線熒光(TXRF)具有優(yōu)異的檢出限（低至ppt或pg），與其它具有類似元素檢出限的檢測手段相比，具有基體效應(yīng)小、樣品需求量小、操作相對簡單、運行成本低等優(yōu)勢。 TXRF一次可以對70多種元素進(jìn)行同時分析，這是原子吸收ETAAS和FAAS方法難以完成的。與質(zhì)譜儀中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析NAA等方法相比較，TXRF分析方法在快速、簡便、經(jīng)濟、多元素同時分析、用樣量少、檢出限低、定量性好等方面有著綜合優(yōu)勢。同時，TXRF多采用內(nèi)標(biāo)法，無需特定標(biāo)準(zhǔn)樣品，儀器不需要額外冷卻設(shè)備，通常無需使用保護(hù)氣等輔助分析。因此，TXRF所分析的樣品較為廣泛。 意大利GNR公司是一家老牌的歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個多世紀(jì)的開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個行業(yè)的分析需求。 X射線衍射儀（XRD）可測試粉末、薄膜等樣品的晶體結(jié)構(gòu)等指標(biāo)，多應(yīng)用于分子結(jié)構(gòu)分析及金屬相變研究；而全反射X熒光光譜儀（TXRF）的檢測限已達(dá)到皮克級別，其非破壞性分析特點應(yīng)用在痕量元素分析中，涉及環(huán)境、醫(yī)藥、半導(dǎo)體、核工業(yè)、石油化工等行業(yè)；為迎合工業(yè)市場需求而設(shè)計制造的專用殘余應(yīng)力分析儀、殘余奧氏體分析儀，近年來被廣泛應(yīng)用在高端材料檢測領(lǐng)域，其操作的便捷性頗受行業(yè)青睞。
游離二氧化硅指巖石或礦物中沒有同金屬或金屬氧化物結(jié)合的二氧化硅（α-石英硅）。 含有游離二氧化硅的粉塵進(jìn)入人體肺內(nèi)后，在二氧化硅的毒作用下，引起肺巨噬細(xì)胞解壞死度、導(dǎo)致肺組織纖維化，形成膠原纖維結(jié)節(jié)，使肺組織彈性喪失，硬度增大，造成通氣障礙，影響肺的呼吸活動，即人吸入游離二氧化硅的粉塵可引起矽肺。矽肺是塵肺中進(jìn)展快、危害重的一種。粉塵中含有游離二氧化硅的量越高，對人體危害越大。我國關(guān)于矽塵的衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)在評價粉塵危害時，明確規(guī)定要檢測游離二氧化硅的含量。如GBZ/T192.4-2007《工作場所空氣中粉塵測定第4部分：游離二氧化硅含量》確規(guī)定了要檢測游離二氧化硅的含量。 目前我國制定的礦塵中游離二氧化硅含量的測定方法主要有以下三種：(1) 物理的X光衍射法。(2) 紅外光譜分析法。 (3) 化學(xué)的焦磷酸質(zhì)量法。這三種方法中，焦磷酸質(zhì)量法由于實驗周期長，步驟繁鎖，對操作人員要求也較高，難以實驗快速檢測；紅外光譜法由于只能檢測α-型游離二氧化硅，且操作過程中難以混勻，不適合多類型的樣品檢測。X射線衍射方法分析速度快，能分析多種不同類型的樣品，儀器操作相對簡單，在游離二氧化硅檢測中運用越來越廣泛。 意大利GNR公司是一家老牌歐洲光譜儀生產(chǎn)商，其X射線產(chǎn)品線誕生于1966年，經(jīng)過半個多世紀(jì)的技術(shù)開發(fā)和研究，該產(chǎn)品線已經(jīng)擁有眾多型號滿足多個行業(yè)的分析需求。 可用于桌面的臺式衍射儀ERUOPE、性價比超高的大功率衍射儀APD 2000 PRO、功能強大的多功能高分辨率X射線衍射儀EXPLORER，均可用于職業(yè)衛(wèi)生中游離二氧化硅的檢測。
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